ALPHA II FT-IR-Spektrometer
ALPHA II - Die integrierte und komfortable FT-IR-Lösung
Das FT-IR Spektrometer ALPHA II vereint höchste Qualität mit geringem Platzbedarf und setzt Maßstäbe beim Bedienkomfort. Mit dem integrierten Touchpanel PC und der OPUS-TOUCH Nutzeroberfläche benötigt man nur drei Berührungen für Messung, Auswertung und Berichtserstellung. OPUS-TOUCH ist sehr intuitiv und führt Sie sehr komfortabel durch Messung und Auswertung.
Das ALPHA II ist die Weiterentwicklung des sehr erfolgreichen ALPHA-Spektrometers. Aufgrund etlicher technischer Innovationen wie der fortschrittlichen Stabilisierung von Quelle und Detektor bietet es Verbesserungen wie höhere Empfindlichkeit, höhere spektrale Auflösung, erweiterten Spektralbereich und eine weiter erhöhte Stabilität.
Das Design folgt der Anwendung
Mit seinem breiten Angebot an QuickSnapTM-Messmodulen ist das ALPHA II überaus flexibel und kann für verschiedenste Anwendungen perfekt angepasst werden.
Automatisierte Tests zur Gerätequalifikation (OQ/PQ/PhEur) und die cGMP- und 21 CFR Part 11- konforme OPUS-Software ermöglichen den Einsatz innerhalb eines validierten Umfelds.
Effizienz in der Routineanalytik
Das ALPHA II bietet alle Möglichkeiten für eine sehr effiziente Routineanalyse. Es eignet sich besonders für Aufgaben der Qualitätskontrolle wie der Wareneingangsprüfung und der Untersuchung industrieller Produkte.
Auch die Identifizierung unbekannter Proben, wie bei der Schadens- und Wettbewerbsanalyse oder in der Forensik, ist mit dem ALPHA II sehr einfach.
Geringe Betriebskosten
Das ALPHA II ist ein Qualitätsprodukt, das für eine langjährige Nutzung und geringe Betriebskosten ausgelegt ist. Höchste Verfügbarkeit und minimaler Wartungsbedarf sind durch hochwertige Komponenten garantiert:
- Robustes Metallgehäuse
- Moderner und messgenauer Diodenlaser mit einer garantierten Lebensdauer >10 Jahre
- Permanent justiertes RockSolidTM-Interferometer, 10 Jahre Garantie
- CenterGlowTM Infrarotquelle mit optimaler Intensität über die gesamte Betriebsdauer von garantiert 5 Jahren
- Platinum Diamant-ATR Messmodul mit garantierter Mindestlebensdauer von 10 Jahren
MATRIX-MG Gasanalysatoren
Herausragende Performance in FT-IR-basierter Gasanalyse
Schnelle, kontinuierliche und vollautomatisierte Identifizierung und Quantifizierung von Gaskomponenten
- Keine Gaskalibrierungen notwendig
- Automatische Kompensation von Störgasen
- Detektionsbereich von wenigen ppb bis hin zu 100%
- Einfach in der Handhabung und wartungsarm
- Eingebaut in einem kompakten und robusten Gehäuse
- Temperierbare Gaszelle (bis 200°C)
- Druck- und Temperaturschwankungen des Gases werden berücksichtigt
Die MATRIX-MG Serie von Bruker beinhaltet Hochleistungsgasanalysatoren für die vollautomatisierte und hochpräzise Quantifizierung von Gaskomponenten in Echtzeit mittels Infrarotspektroskopie. Das Messgas wird in einer Gaszelle analysiert, welche mit verschiedenen optischen Weglängen von 10 cm (MATRIX-MG01), 2 m (MG2), und 5 m (MG5) erhältlich ist, um ein möglichst breites Anwendungsspektrum zu gewährleisten. Die Identifizierung und Quantifizierung der Gaskomponenten wird von dem Softwarepakt OPUS GA (Gasanalyse) vollautomatisiert durchgeführt. Dies erlaubt die Quantifizierung von über 400 Gaskomponenten, ohne Gaskalibrierungen vornehmen zu müssen. Design der 5 m Multireflexionszelle ist speziell für einen schnellen Gasaustausch optimiert, um auch die Analyse von Gasen in dynamische Prozessen, wie etwa der Abgase von Verbrennungsmotoren, zu ermöglichen.
Zur Produktliste der FirmaLUMOS II: FT-IR-Mikroskopie und -Bildgebung
Das LUMOS II bietet herausragende visuelle und spektrale Datenqualität mit vollständiger Automatisierung aller Messmodi: Transmission, Reflexion und ATR. Für FT-IR-Unerfahrene und -Experten gleichermaßen ist das LUMOS II die beste Lösung für die Infrarot-Mikroskopie.
Durch Brukers exklusive Focal-Plane-Array-(FPA)-Detektortechnologie erleben sie detailgetreues Imaging in maximaler Geschwindigkeit. So können Sie die vielfältigen Möglichkeiten der FT-IR-Mikroskopie voll ausschöpfen.
Gleiten Sie Mühelos durch Messung, Evaluation und Berichterstellung dank der OPUS IR-Software, die immer dann unterstützend eingreift, wenn es wirklich notwendig wird.
Ihre Vorteile:
• Extrem schnelles FT-IR-Imaging (FPA)
• Hohe spektrale Qualität und Auflösung
• Brillante optische Bilder und riesiges Sichtfeld
• Komplett automatisiertes FT-IR-Mikroskop
• Integrierter, piezo-gesteuerter ATR-Kristall
• Software unterstützte Messung und Auswertung
• Automatische Messung in Transmission, Reflexion und ATR
• Viel Raum zwischen Probentisch und Objektiv
• Analysieren Sie Proben von bis zu 40 mm Höhe.
verTera Terahertz Erweiterung
Das VERTEX80v stellt hinsichtlich Leistungsfähigkeit, Messempfindlichkeit und Flexibilität den Goldstandard der F&E FT-IR Spektroskopie dar. Mit der einzigartigen verTera THz-Erweiterung ist das VERTEX80v nun das erste und einzige Komplettsystem, das die Vorteile von FT-IR und kontinuierlicher (cw) THz-Spektroskopie in sich vereinigt. Durch den extrem großen Spektralbereich eröffnen sich aufregende neue Möglichkeiten.
Einzigartige Merkmale:
- FT-IR/THz Hybridspektrometer mit Spektralbereich bis zu 3-50000 cm-1
- Keine kryogen gekühlten Komponenten erforderlich
- Einzigartige effektive spektrale Auflösung < 0,0007 cm-1
- Unerreichte THz Spektrenqualität durch Vakuumoptik und optimierte THz Datenverarbeitung
- Verwendung von gleichem Probenraum und Zubehören für FT-IR und cw THz
- Steuerung von FT-IR und THz Modus mittels OPUS Software mit voller Datenkompatibilität

