Beratung
SAP-Beratung: TDS bietet als SAP-Beratungshaus grundlegende und umfassende Beratung für alle Fragen rund um die Einführung, Anpassung oder Weiterentwicklung von SAP-Produkten. Unsere Expertise im SAP Consulting reicht dabei von den besonderen Anforderungen mittelständischer Unternehmen über die zahlreichen SAP-Module bis hin zu einer ausgeprägten Branchenkompetenz. ECM-Beratung: Unternehmensdokumente und Informationen wie E-Mails, Verträge, Bestellungen, Aufträge, Personalakten, Webseiten usw. unterliegen unterschiedlichen Prozessen und Richtlinien für die Erstellung, Freigabe, Aufbewahrung, Nutzung und Vernichtung. Das stellt hohe Anforderungen an Ihr Enterprise Content Management. Um Sie dabei optimal zu unterstützen, bieten wir Ihnen ein Komplettangebot rund um die ECM-Technologien von SAP, Microsoft und SAPERION – von der Beratung über die Implementierung bis hin zum Betrieb der Lösungen in unseren hoch sicheren und zertifizierten Rechenzentren in Deutschland. Business Intelligence: Nutzen Sie Ihre vorhandenen Datenbestände für Analysen, Auswertungen und Prognosen mit dem Ziel einer erfolgreichen Unternehmenssteuerung? Ein Team erfahrener TDS-Experten zeigt Ihnen, wie Sie Ihre Prozesse im Bereich BI noch effizienter und zielorientierter gestalten können. Zur Produktliste der FirmaLUMOS II: FT-IR-Mikroskopie und -Bildgebung
Das LUMOS II bietet herausragende visuelle und spektrale Datenqualität mit vollständiger Automatisierung aller Messmodi: Transmission, Reflexion und ATR. Für FT-IR-Unerfahrene und -Experten gleichermaßen ist das LUMOS II die beste Lösung für die Infrarot-Mikroskopie.
Durch Brukers exklusive Focal-Plane-Array-(FPA)-Detektortechnologie erleben sie detailgetreues Imaging in maximaler Geschwindigkeit. So können Sie die vielfältigen Möglichkeiten der FT-IR-Mikroskopie voll ausschöpfen.
Gleiten Sie Mühelos durch Messung, Evaluation und Berichterstellung dank der OPUS IR-Software, die immer dann unterstützend eingreift, wenn es wirklich notwendig wird.
Ihre Vorteile:
• Extrem schnelles FT-IR-Imaging (FPA)
• Hohe spektrale Qualität und Auflösung
• Brillante optische Bilder und riesiges Sichtfeld
• Komplett automatisiertes FT-IR-Mikroskop
• Integrierter, piezo-gesteuerter ATR-Kristall
• Software unterstützte Messung und Auswertung
• Automatische Messung in Transmission, Reflexion und ATR
• Viel Raum zwischen Probentisch und Objektiv
• Analysieren Sie Proben von bis zu 40 mm Höhe.