Bruker Optics GmbH & Co. KG

Das LUMOS II bietet herausragende visuelle und spektrale Datenqualität mit vollständiger Automatisierung aller Messmodi: Transmission, Reflexion und ATR. Für FT-IR-Unerfahrene und -Experten gleichermaßen ist das LUMOS II die beste Lösung für die Infrarot-Mikroskopie.

Durch Brukers exklusive Focal-Plane-Array-(FPA)-Detektortechnologie erleben sie detailgetreues Imaging in maximaler Geschwindigkeit. So können Sie die vielfältigen Möglichkeiten der FT-IR-Mikroskopie voll ausschöpfen.

Gleiten Sie Mühelos durch Messung, Evaluation und Berichterstellung dank der OPUS IR-Software, die immer dann unterstützend eingreift, wenn es wirklich notwendig wird.

Ihre Vorteile:
• Extrem schnelles FT-IR-Imaging (FPA)
• Hohe spektrale Qualität und Auflösung
• Brillante optische Bilder und riesiges Sichtfeld
• Komplett automatisiertes FT-IR-Mikroskop
• Integrierter, piezo-gesteuerter ATR-Kristall
• Software unterstützte Messung und Auswertung
• Automatische Messung in Transmission, Reflexion und ATR
•  Viel Raum zwischen Probentisch und Objektiv
• Analysieren Sie Proben von bis zu 40 mm Höhe.

Das VERTEX80v stellt hinsichtlich Leistungsfähigkeit, Messempfindlichkeit und Flexibilität den Goldstandard der F&E FT-IR Spektroskopie dar. Mit der einzigartigen verTera THz-Erweiterung ist das VERTEX80v nun das erste und einzige Komplettsystem, das die Vorteile von FT-IR und kontinuierlicher (cw) THz-Spektroskopie in sich vereinigt. Durch den extrem großen Spektralbereich eröffnen sich aufregende neue Möglichkeiten.

Einzigartige Merkmale:

• FT-IR/THz Hybridspektrometer mit Spektralbereich bis zu 3-50000 cm-1
• Keine kryogen gekühlten Komponenten erforderlich
• Einzigartige effektive spektrale Auflösung < 0,0007 cm-1
• Unerreichte THz Spektrenqualität durch Vakuumoptik und optimierte THz Datenverarbeitung
• Verwendung von gleichem Probenraum und Zubehören für FT-IR und cw THz
• Steuerung von FT-IR und THz Modus mittels OPUS Software mit voller Datenkompatibilität

Das SENTERRA II definiert neue Maßstäbe für spektroskopische Leistung und Benutzerfreundlichkeit in der Klasse kompakter Raman-Mikroskope.

SENTERRA II kombiniert exzellente Messempfindlichkeit mit einer hohen Leistungsfähigkeit bei der Raman-Analyse und -Bildgebung. Damit ist das SENTERRA II prädestiniert, anspruchsvolle Forschungsanwendungen zu erfüllen. Aufgrund des hohen Automatisierungsgrades, seiner Kompaktheit und des effizienten Arbeitsablaufs eignet sich das SENTERRA II gleichermaßen zur Routineanalytik im Qualitätskontroll-Labor.

Highlights:

• Beeindruckende spektroskopische Leistung
• Intuitiver & komfortabler Arbeitsablauf durch Softwareassistenz und automatisierte Gerätehardware
• Unerreichte Wellenzahl-Präzision & -Genauigkeit durch SureCALTM
• Kompaktes Design durch ein im Mikroskop integriertes Spektrometer
• Unkomplizierte Raman-Bildgebung
• Voller Spektralbereich in allen Messmodi
• Multi-Laser-Anregung mit schneller Umschaltung
• Kombination mit FT-Raman-Technik für minimierte Fluoreszenz
• Voll automatisierte Gerätetests
• Konform zu GMP/cGMP, GLP und 21 CFRp11

Anwendungen:

Das SENTERRA II ermöglicht Messung von Ramanspektren mit hoher Ortsauflösung und verbindet die gewonnene molekulare Information mit qualitativ hochwertigen mikroskopischen Bildern der Probe. Die Analyse erfolgt kontaktfrei und ohne vorherige Probenpräparation. Da sich das SENTERRA II zur Detektion, Differenzierung und Identifikation organischer und anorganischer Materialien eignet, erschließt sich ein sehr weites Anwendungsfeld.